IEC60950-1 Test Pin Untuk Peralatan Teknologi Informasi Test Tip Diameter 3mm

IEC60950-1 Test Pin Untuk Uji Peralatan Teknologi Informasi, Diameter Tip 3mm

Klausul IEC60950-1 2.1.1.1 Akses ke bagian yang diberi energi

c) Pengujian dengan pin uji, Gambar 2B, yang tidak boleh menyentuh bagian telanjang pada TEGANGAN BERBAHAYA bila diterapkan pada bukaan dalam ENCLOSURE LISTRIK eksternal.Bagian yang dapat dilepas oleh OPERATOR, termasuk fuseholder dan lampu, dibiarkan di tempatnya, dan pintu serta penutup akses OPERATOR ditutup selama pengujian ini.Uji Jari Probe

Jari uji, pin uji dan probe uji diterapkan seperti di atas, tanpa kekuatan yang cukup besar, di setiap posisi yang memungkinkan, kecuali peralatan berdiri di lantai yang memiliki massa melebihi 40 kg tidak dimiringkan.
Peralatan yang dimaksudkan untuk dipasang di dalam atau dipasang di rak, atau untuk dipasang pada peralatan yang lebih besar, diuji dengan akses ke peralatan yang dibatasi menurut metode pemasangan yang dirinci dalam petunjuk pemasangan.Uji Jari Probe

Dimana kontak antara alat uji dan bagian tidak diizinkan dalam pengujian di atas, tidak ada persyaratan untuk celah udara minimum untuk tegangan tidak melebihi 1 000 V ac atau 1 500 V dc
Untuk tegangan yang lebih tinggi, harus ada celah udara antara bagian pada TEGANGAN BERBAHAYA dan jari uji, Gambar 2A, atau pin uji, Gambar 2B, ditempatkan pada posisi yang paling tidak menguntungkan.Celah udara ini, lihat Gambar 2D

Standar:

Sesuai dengan IEC 60065 klausa 9.1.1.2, IEC61032 gambar 9 Test probe13, IEC60950-1 gambar 2B, IEC60335.Uji Jari Probe

Aplikasi:

Pin ini dimaksudkan untuk memverifikasi perlindungan terhadap akses ke bagian aktif yang berbahaya di peralatan kelas 0 dan peralatan kelas II.

Sampel uji:

Bagian aktif enklosur atau bagian mekanis yang mudah diakses.Uji Jari Probe

Fitur:

Ini dapat digunakan untuk uji perlindungan enklosur saat membuka lubang ulir M6 di ujung pegangan (dihubungkan dengan dinamometer tarik dan dorong).

Parameter:

Gambar untuk referensi: